方案簡介

PLock^®+ 基于(yu)SGKS自(zi)有專(zhuan)利技術（發明專(zhuan)利ZL2014 1 0169508.4、發明專(zhuan)利20141 0468 636.9），通(tong)過固定在(zai)實驗(yan)室(shi)基礎(chu)設施上的(de)特征(zheng)定位測(ce)量(liang)系(xi)(xi)統(tong)，把整個空間的(de)測(ce)量(liang)數據統(tong)一(yi)在(zai)同一(yi)個世界坐標(biao)系(xi)(xi)下，最(zui)后完成超大(da)目標(biao)的(de)三(san)維(wei)測(ce)量(liang)（包(bao)括掃描(miao)）。主要(yao)特點(dian)：

• 實驗室固定區域測量
• 投入低、維護成本低
• 可方便測量大型物體
• 可完成三維測量和掃描

系統配置

• PLock^®+ 測量系統主要構成：
• PLock^®+（固定在實驗室的基礎設施上，如地坪、混凝土墻面或柱子等）
• PLock^® ACE 臂式測量機
• 選配LDI高速三維激光掃描系統
• 測量軟件
• 測量計算機、移動測量專用三腳車、電源、空調等

意義

非接觸式掃描(miao)(miao)測(ce)量(liang)(liang)技(ji)術(shu)在逆(ni)(ni)向工(gong)(gong)(gong)程和(he)形(xing)狀誤差(cha)檢測(ce)中應(ying)用越來越廣泛。基于(yu)大(da)數(shu)據(ju)掃描(miao)(miao)的(de)逆(ni)(ni)向工(gong)(gong)(gong)程具有(you)速(su)度(du)(du)快、誤差(cha)小、建模和(he)誤差(cha)檢測(ce)同步進行等(deng)特(te)點，已經成為逆(ni)(ni)向工(gong)(gong)(gong)程的(de)主要手段。而基于(yu)大(da)量(liang)(liang)數(shu)據(ju)的(de)形(xing)狀誤差(cha)檢測(ce)（Form Inspection）因避免了(le)傳統測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式的(de)數(shu)據(ju)離散、測(ce)量(liang)(liang)速(su)度(du)(du)慢的(de)缺(que)點，已經為很多跨(kua)國公司所采用。三(san)維激光掃描(miao)(miao)測(ce)量(liang)(liang)技(ji)術(shu)具有(you)精度(du)(du)高、數(shu)據(ju)品質高、采樣速(su)度(du)(du)快、密度(du)(du)大(da)、對物體表面(mian)適應(ying)性好等(deng)特(te)點，已經成為多特(te)征產品的(de)首(shou)選(xuan)方(fang)法之一。

PLock^®+ 超大(da)尺(chi)寸三(san)維(wei)激(ji)光掃描和測(ce)量(liang)系(xi)統為SGKS專(zhuan)利技術，在測(ce)量(liang)空間內(nei)，誤差一般可以(yi)控制(zhi)在0.1mm以(yi)下（與(yu)實驗(yan)室環境和基礎結構(gou)有點(dian)關系(xi)），單站誤差在0.05mm以(yi)下，同等(deng)精度(du)三(san)維(wei)測(ce)量(liang)系(xi)統至少在400萬元以(yi)上。