SQ3000是一個一體化的(de)解決方案提供強大(da)的(de)工具，可作檢查(cha)和測(ce)量應用，如AOI、SPI和CMM。SQ3000? X支持最(zui)大(da)720 X 620 mm尺寸基板。

SQ3000?革命性(xing)的多重反射(she)抑(yi)制(zhi)(zhi)(MRS)技術提供無與倫比的精(jing)度，通(tong)過精(jing)確識別(bie)和排除(chu)由發光部件引起的反射(she)，保證測量(liang)精(jing)確性(xing)的最關鍵(jian)因素是有效地(di)抑(yi)制(zhi)(zhi)多重反射(she)所產生的影響，使MRS技術成為廣泛應用的理想解(jie)決方案，包括對質量(liang)要求非(fei)常(chang)高的應用。

速度更快-檢測速度以秒為單位，而不是小時

-以秒數完成幾何計量檢測?檢測時間遠超傳統三坐標
-極大(da)提(ti)高(gao)了企(qi)業的整體(ti)工(gong)程資(zi)源效率?降(jiang)低(di)人工(gong)成(cheng)本

友好的操作界面

-簡單直觀的操作流程，配合觸摸屏令使用更加便捷
-即使復雜工件?也可實現快速編程
-實現AOI, SPI, AOM, CMM多(duo)功能程序融合

計量級精度

-通過MRS (多反射消除）技術達到計量級檢測精度
-針對幾何(he)計量，半(ban)導體，微電(dian)子和(he)SMT行業?實(shi)現大(da)批量編程測(ce)量并保持(chi)極高重(zhong)復精度(du)